यूएन-टीएफए3520एल-12एमपी

उत्पाद की विशेषताएँ:

· उच्च सापेक्ष रोशनी और उच्च कंट्रास्ट
· कम विरूपण और उत्कृष्ट कोने चमक

· उच्च संकल्प

· 1" और 1.1" 12MP कैमरे के साथ संगत

उत्पाद की जानकारी: अनुरोध पर कस्टम डिजाइन उपलब्ध हैं।

उत्पाद की विशेषताएँ:

· उच्च सापेक्ष रोशनी और उच्च कंट्रास्ट
· कम विरूपण और उत्कृष्ट कोने चमक

· उच्च संकल्प

· 1" और 1.1" 12MP कैमरे के साथ संगत

उत्पाद की जानकारी: अनुरोध पर कस्टम डिजाइन उपलब्ध हैं।

For Semiconductor Wafer Inspection, Biomedical Imaging, Logistics Package Sorting, Wildfire Detection & Ember Monitoring, etc.

· Developed for 1.1" image format
· Wavelength: 800-1700nm
· Large Aperture, up to F2.0
· Compact and lightweight design

For semiconductor and precision electronics manufacturing inspection and alignment, new energy lithium-ion battery defect detection, ultra-thin flat panel display surface defect inspection, and high-speed printing quality inspection.

· Developed for 72mm big frame sensor

· IR correction

· Excellent optical performance, uniform imaging of center and edge

Product information: Custom designs are available upon request.