Tel : +86-591-86395085
Email : sales@uni-optics.com
उत्पाद की विशेषताएँ:
· 1" छवि प्रारूप के लिए विकसित
· तरंगदैर्ध्य: 900-1700 मीटर· बड़ा एपर्चर, F1.4 तक
· कॉम्पैक्ट और हल्के वजन का डिज़ाइन
| Ge m i n i सीरीज SWIR लेंस |
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| नमूना |
यूएन-जीएसडब्ल्यूआईआर 08 14सी |
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| फोकल लम्बाई |
8 मिमी |
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| छेद |
एफ 1.4 |
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| छवि प्रारूप |
2/3 ″ |
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| पर्वत |
सी |
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| फ़ील्ड कोण |
|
2/3 ″ |
|
| डी |
6 1 ° |
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| एच |
54.8 ° |
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| वी |
42.8 ° |
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| ऑप्टिकल विरूपण |
<-1.43% |
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| एमओडी |
0.1 मी |
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| आयाम |
Φ 52 * 42.28 मिमी |
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| निकला हुआ किनारा बीएफएल |
1 7 . 5 26 मिमी |
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| बैक एफ ओकल एल लंबाई |
9.636 मिमी |
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| संकल्प |
80एलपी/मिमी |
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| संचालन |
मैनुअल आईरिस |
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| मैनुअल फोकस |
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| डिजाइन तरंगदैर्घ्य |
900-1700 एनएम |
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| थ्रेड फ़िल्टर करें |
एम 49 *0. 7 5 |
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हॉट टैग :
पिछला :
यूएन-जीएसडब्ल्यूआईआर0618सीआगामी :
यूएन-जीएसडब्ल्यूआईआर1214सी
यूएन-जीएसडब्ल्यूआईआर0618सी
उत्पाद की विशेषताएँ:
· 1" छवि प्रारूप के लिए विकसित
· तरंगदैर्ध्य: 900-1700 मीटर· बड़ा एपर्चर, F1.4 तक
· कॉम्पैक्ट और हल्के वजन का डिज़ाइन
यूएन-जीएसडब्ल्यूआईआर1214सी
उत्पाद की विशेषताएँ:
· 1" छवि प्रारूप के लिए विकसित
· तरंगदैर्ध्य: 900-1700nm
· बड़ा एपर्चर, F1.4 तक
· कॉम्पैक्ट और हल्के वजन का डिज़ाइन
यूएन-जीएसडब्ल्यूआईआर10020सी
उत्पाद की विशेषताएँ:
· 1" छवि प्रारूप के लिए विकसित
· तरंगदैर्ध्य: 900-1700nm
· बड़ा एपर्चर, F1.4 तक
· कॉम्पैक्ट और हल्के वजन का डिज़ाइन
SWIR Lens UN-GSWIR752S-14MP
For Semiconductor Wafer Inspection, Biomedical Imaging, Logistics Package Sorting, Wildfire Detection & Ember Monitoring, etc.
· Developed for 1.1" image format
· Wavelength: 800-1700nm
· Large Aperture, up to F2.0
· Compact and lightweight design
यूएन-जीएसडब्ल्यूआईआर1614सी
| Ge m i n i सीरीज SWIR लेंस |
|||
| नमूना |
यूएन-जीएसडब्ल्यूआईआर 16 14सी |
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| फोकल लम्बाई |
16 मिमी |
|
|
| छेद |
एफ 1.4 |
||
| छवि प्रारूप |
1 ″ |
||
| पर्वत |
सी |
||
| फ़ील्ड कोण |
|
1 ″ |
|
| डी |
54 ° |
||
| एच |
43.8 ° |
||
| वी |
33.4 ° |
||
| ऑप्टिकल विरूपण |
<- 0.6 % |
||
| एमओडी |
0.3 मी |
||
| आयाम |
Φ 54 * 63.00 मिमी |
||
| निकला हुआ किनारा बीएफएल |
1 7 . 5 26 मिमी |
||
| बैक एफ ओकल एल लंबाई |
13.72 मिमी |
||
| संकल्प |
80 एलपी/मिमी |
||
| संचालन |
मैनुअल आईरिस |
||
| मैनुअल फोकस |
|||
| डिजाइन तरंगदैर्घ्य |
900-1700 एनएम |
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| थ्रेड फ़िल्टर करें |
M52x0.75 |
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यूएन-जीएसडब्ल्यूआईआर2514सी
| Ge m i n i सीरीज SWIR लेंस |
|||
| नमूना |
यूएन-जीएसडब्ल्यूआईआर 25 14सी |
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| फोकल लम्बाई |
25 मिमी |
|
|
| छेद |
एफ 1.4 |
||
| छवि प्रारूप |
1 ″ |
||
| पर्वत |
सी |
||
| फ़ील्ड कोण |
|
1 ″ |
|
| डी |
61.93 ° |
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| एच |
52.21 ° |
||
| वी |
40.1 ° |
||
| ऑप्टिकल विरूपण |
<- 0.96 % |
||
| एमओडी |
0.3 मी |
||
| आयाम |
Φ 36.5 * 54.91 मिमी |
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| निकला हुआ किनारा बीएफएल |
1 7 . 5 26 मिमी |
||
| बैक एफ ओकल एल लंबाई |
11.51 मिमी |
||
| संकल्प |
80 एलपी/मिमी |
||
| संचालन |
मैनुअल आईरिस |
||
| मैनुअल फोकस |
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| डिजाइन तरंगदैर्घ्य |
900-1700 एनएम |
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| थ्रेड फ़िल्टर करें |
एम 34 *0.5 |
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यूएन-जीएसडब्ल्यूआईआर3514सी
यूएन-जीएसडब्ल्यूआईआर5014सी
यूएन-सीएलएस954.5/वी45
उत्पाद की विशेषताएँ:
· एक विस्तृत कार्य दूरी को कवर करना
· बहुत कम विरूपण और उच्च रिज़ॉल्यूशन· लॉक करने योग्य दूरी और एपर्चर सेटिंग्स
उत्पाद की जानकारी: अनुरोध पर कस्टम डिजाइन उपलब्ध हैं।
Line Scan Lens UN-ALS14604L16K-0.5X
For high-end PCB AOI micro-inspection, Mini/Micro LED panel pixel defect detection, photovoltaic silicon wafer EL hidden crack inspection, narrow high-temperature metal strip flaw detection, luxury anti-counterfeit printing texture inspection, electronic ceramic substrate microscopic testing, UAV high-precision aerial survey mapping and ultra-precise online dimensional measurement of micro electronic components.
· Developed for 82mm big frame sensor
· Low distortion
· Compatible for 16K line scan camera
· Excellent optical performance, uniform imaging of center and edge
Product information: Custom designs are available upon request.
