यूएन-UW00247012C-एमपी

प्लानो-अवतल आयताकार बेलनाकार लेंस एक-अक्षीय बीम विस्तार के लिए संयुक्त-अक्षीय नकारात्मक इमेजिंग प्रदान करते हैं और अनुप्रयोगों की एक विस्तृत श्रृंखला होती है। अवतल बेलनाकार सतह दर्पण की आवश्यकता होने पर दर्पण लेंस का उपयोग दर्पण के रिक्त स्थान के रूप में भी किया जा सकता है।

For high-end PCB AOI micro-inspection, Mini/Micro LED panel pixel defect detection, photovoltaic silicon wafer EL hidden crack inspection, narrow high-temperature metal strip flaw detection, luxury anti-counterfeit printing texture inspection, electronic ceramic substrate microscopic testing, UAV high-precision aerial survey mapping and ultra-precise online dimensional measurement of micro electronic components.

· Developed for 82mm big frame sensor
· Low distortion
· Compatible for 16K line scan camera
· Excellent optical performance, uniform imaging of center and edge

Product information: Custom designs are available upon request.